塞貝克系數測量儀是一種用于物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，是根據地質、礦業(yè)、物探、半導體科研院所的需求而設計的新型自動化數字化熱電系數測量儀，用于測量具有類似半導體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導體材料的熱電系數。在某些礦物和半導體材料的研究中測取熱電系數具有重要的用途和意義。塞貝克系數測定儀適合于礦業(yè)、地質、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。

 

工作原理：

 

Seebeck效應指的是熱能轉換為電能的現(xiàn)象，是熱電材料應用的理論基礎，它被稱為熱電d一效應。Seebeck系數通常也稱為溫差電動勢率，根據Seebeck系數的定義，被測材料和參考材料之間滿足如下關系：

 

式中：S——熱電材料的Seebeck系數；

ΔT——溫差；

 

Vsr——溫差ΔT下產生的Seebeck電壓。

 

根據式（1），通常將Seebeck系數的測量裝置設計成圖 1所示的形式。在實際測試中，通常在上下電極中的一端安裝加熱或制冷裝置使樣品兩端產生溫差ΔT′，然后由熱電偶測出溫差ΔT和電壓Vsr。
 

德國林賽斯 塞貝克系數/電阻測試儀 LSR-3可以同時測量塞貝克系數和電阻（電阻率），可以測量圓柱形或棱柱形的樣品，長度6—23毫米，利用*的測量適配器可以測量線狀和薄片狀樣品，通過三種可更換的爐體，測量溫度范圍可以覆蓋-100到1500 ℃。